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COMO IDENTIFICAR Y MEDIR ALGUNOS COMPONENTES

 

FIG. 1

Como se ve en la imágen superior FIG. 1 , el Tester Digital está seleccionado para realizar mediciones de semiconductores ( simbolo del diodo ). Al colocar las Puntas de Prueba, POSITIVO en uno de los pines del TRANSISTOR y NEGATIVO en el otro extremo.....éste nos da un valor que es de . 5 4 6 , a continuación veremos la siguiente imágen :

 

FIG. 2

Vemos que al mantener la Punta de Prueba Positiva en el mismo pin y colocamos la Punta de Prueba Negativa en el pin central FIG. 2, el instrumento nos da un valor distinto y menor que la medición anterior que es de . 4 7 4.

Si nosotros invertimos las Puntas de Prueba y realizamos las mismas acciones anteriores, como se ve en las figuras siguientes :

FIG. 3

Vemos que al colocar las Puntas de Prueba, NEGATIVO en uno de los pines del TRANSISTOR y POSITIVO en el otro extremo el instrumento nos da un valor infinito FIG. 3, a continuación veremos la siguiente imágen :

 

FIG. 4

Vemos que al mantener la Punta de Prueba Negativa en el mismo pin y colocamos la Punta de Prueba Positiva en el pin central, el instrumento nos sigue dando un valor infinito FIG. 4.

 

Los resultados de éstas pruebas nos están demostrando algo que es primordial, especialmente en la medición de un TRANSISTOR de Silicio Bipolar y es la identificación individual de cada uno de los pines. La imágen que muestra la FIG. 1 y FIG. 2 tienen en común la Punta de Prueba POSITIVA, y recordando que las junturas de un TRANSISTOR tienen en común la BASE, ya tenemos identificado el primer pin.

La FIG. 1 y FIG. 2 muestran que el instrumento da DOS valores diferentes al usar la Punta de Prueba NEGATIVA . En la FIG. 1 el valor es superior al de la FIG. 2 y por norma natural de las junturas la BASE EMISOR es mayor FIG. 1 que la BASE COLECTOR FIG. 2, es decir que el TRANSISTOR es del tipo ( N-P-N ), la P es la base ROJO POSITIVO común y está polarizado directamente por el tester digital y para ambas junturas, una juntura N-P es la EMISOR-BASE y la otra juntura P-N es la BASE-COLECTOR.

La FIG. 3 y la FIG. 4 nos muestran que al medir con polarización inversa las junturas del TRANSISTOR, éste se comporta como un aislante.

 

NOTA 1: El Tester Digital entrega en las Puntas de Prueba un voltaje suficiente para hacer trabajar y polarizar directamente las junturas del transistor; el voltaje es entregado por la batería interna y es un voltaje contínuo y no alterno.

FIG. 1 BASE - EMISOR MAYOR que FIG. 2 BASE - COLECTOR

Para un TRANSISTOR P-N-P el proceso es inverso.

 

 

 

MEDIDA DE UN DIODO DE SILICIO

 

FIG. 5

La FIG. 5 muestra las Puntas de Prueba midiendo la polarización directa de un Diodo de Silicio, en donde vemos que la Punta de Prueba POSITIVA está en el Ánodo y la Punta de Prueba NEGATIVA en el Cátodo, la juntura tine un valor similar a la juntura de un TRANSISTOR.

 

FIG. 6

La FIG. 6 muestra las Puntas de Prueba midiendo la polarización inversa de un Diodo de Silicio, en donde vemos que la Punta de Prueba POSITIVA está en el Cátodo y la Punta de Prueba NEGATIVA en el Ánodo, la juntura tine un valor infinito.

 

NOTA 2 : Cada Diodo sea de Germanio o de Silicio, presenta un valor diferente o similar pero la idea primordial es la de identificar las polaridades de éste ( Ánodo y Cátodo )

 

 

IDENTIFICAR Y MEDIR COMPONENTES DAÑADOS O QUEMADOS

Sabemos ya como se mide un Diodo y un Transistor que están buenos, pero que pasa cuando están malos ?.?..?...... ántes que nada debemos tener las siguientes herramientas aparte del TESTER DIGITAL :

 

FIG. 7a

FIG. 7b

La FIG. 7a corresponde a un extractor o removedor de Soldadura el cual trabaja succionando el aire y llevándose consigo al interior la Soldadura ya derretida por el calor aplicado por la punta del Cautín o Calentador FIG. 7b.

 

Para reconocer básicamente un Semiconductor dañado, debemos realizar los siguientes pasos :

1.- Exploración Visual .

2.- Reconocer e Identificar los componentes ( RESISTENCIAS - CONDENSADORES - SEMICONDUCTORES - BOBINAS - ETC.. )

3.- Extraer los componentes dudososo o defectuosos reconocidos visualmente .

4.- Medir componentes con el TESTER DIGITAL .

5.- Reemplazar el componente dañado .

 

 

IMÁGENES DE ALGUNOS COMPONENTES DAÑADOS

 

FIG. 8

 

FIG. 9

 

FIG. 10

 

La FIG. 8 muestra una RESISTENCIA que visualmente está irreconocible y al medir con el TESTER DIGITAL nos de un valor no real, pero ayudados por una LUPA o LENTE de AUMENTO podemos observar más detalladamente los posibles colores ( CAFE - NEGRO - CAFE o ROJO ), la última banda de color es insegura además es la banda de multiplicación, si fuera de color CAFE sería una RESISTENCIA de 100 OHM, y si fuera de color ROJO sería una RESISTENCIA de 1000 OHM o 1K OHM ( K= Kilo ). La FIG. 9 muestra una RESISTENCIA en condiciones similares al de la FIG. 8, pero la FIG. 10 revela lo que sucede con una RESISTENCIA que se quema y es ilegible su identificación, ésto es causado por una POTENCIA que la resistencia no es capaz de soportar, generalmente están quemados otros componentes que van conectados electricamente al circuito.

Para asegurarnos de colocar o reemplazar la RESISTENCIA adecuada FIG. 8 y FIG. 9, es mejor colocar la de 1K OHM y desde éste valor resistivo comenzar a usar resistencias más pequeñas, bajando en la escala resistiva( 910 OHM - 820 OHM - ....100 OHM ... 2 OHM. ) y haciendo las pruebas de funcionamiento correspondientes para cada valor hasta que el circuito funcione correctamente. Pero en el caso de la FIG. 10 se debe analizar el circuito. En resúmen la idea es comenzar con un valor alto.

 

NOTA 3 : Tener presente la POTENCIA de la RESISTENCIA al reemplazarla.

 

 

FIG. 11

La FIG. 11 muestra un DIODO de SILICIO que está quebrado, producto de una Sobre Tensión o Sobre Corriente mayor de la que es capaz de soportar el SEMICONDUCTOR. Éste tipo de casos es identificable a simple vista, pero si al medir un DIODO con el TESTER DIGITAL el resultado no es similar como el de la FIG. 5 entonces es que está dañado.

 

NOTA 4 : Al medir con un TESTER DIGITAL un DIODO que está dañado éste medirá en ambos sentidos (se dice técnicamente que está en corto circuito), o simplemente no medirá ningún valor ( se dice técnicamente que está abierto ) .

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